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紫外輻照計報價紫外輻照計報價(單通道) 型號:BB213-UV-A庫號:M183080
紫外輻照計采用 SMT 貼片技術(shù),該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、
以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作
主要技術(shù)指標(biāo)* 波長范圍及峰值波長:(以下兩種選其一)(1)探頭:(375~475)nm,?P=420nm
(2) 探頭:(320~400)nm,?P=365nm
輻照度測量范圍:(0.1~200000) ?W/cm2
* 相對示值誤差:±8%* 余弦特性(方向性響應(yīng))誤差:10%* 線性誤差:±1.5%
* 換檔誤差:±1%* 短期不穩(wěn)定性:±1%(開機(jī) 30min 后)
* 誤差:3%* 零值誤差(滿量程 FS):±1%
* 響應(yīng)時間:1 秒
* 使用環(huán)境: 溫度(0~40)℃,濕度<85%RH
* 尺寸和重量:160mm×78mm×43mm,0.2kg
* 電源: 常規(guī)使用 6F22 型 9V 積層電池一只,
亦可使用數(shù)據(jù)線連接 USB 接口、5V 電源適配器
供電,整機(jī)功耗 < 0.1VA
紫外輻照計采用 SMT 貼片技術(shù),該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、
以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作
主要技術(shù)指標(biāo)* 波長范圍及峰值波長:(以下兩種選其一)(1)探頭:(375~475)nm,?P=420nm
(2) 探頭:(320~400)nm,?P=365nm
輻照度測量范圍:(0.1~200000) ?W/cm2
* 相對示值誤差:±8%* 余弦特性(方向性響應(yīng))誤差:10%* 線性誤差:±1.5%
* 換檔誤差:±1%* 短期不穩(wěn)定性:±1%(開機(jī) 30min 后)
* 誤差:3%* 零值誤差(滿量程 FS):±1%
* 響應(yīng)時間:1 秒
* 使用環(huán)境: 溫度(0~40)℃,濕度<85%RH
* 尺寸和重量:160mm×78mm×43mm,0.2kg
* 電源: 常規(guī)使用 6F22 型 9V 積層電池一只,
亦可使用數(shù)據(jù)線連接 USB 接口、5V 電源適配器
供電,整機(jī)功耗 < 0.1VA
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