PRODUCT CLASSIFICATION
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2011-03-07 2019-04-02 2019-04-08 2012-02-20 2011-02-21 
產品型號：M257284廠商性質：經銷商更新時間：2024-09-30訪 問 量：867
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數字集成電路多值邏輯測試儀報價數字集成電路多值邏輯測試儀報價 型號:VV522-Simi100庫號：M264585
數字集成電路多值邏輯測試儀
◆利用的多值比較法對器件進行快
速的參數和功能綜合測試。◆ 用戶可按不
同的要求選擇測試模式，對器件進行直
流參數測試。以區分IC品質，快速分選。
實用。經該產品測試過的器件，可
以放心地上機使用，解決產品質量
問題。◆數字IC功能參數測試儀。操
作簡便，測試成本低廉，實用。
產品主要性能:
在功能測試的基礎上
測試器件的輸人端注人電流。
測試器件的輸人端交叉漏電流。
測試器件的輸出端“三態"及“OC"門。
測試器件的輸出負載電流。
測試器件的功耗電流。
查找未知芯片型號。
可以單次測試，也可以循環測試.
可自動識別74系列中的CMOS器件
(如: 74C、74HC、74HCT等)。
當被測芯片被確認為74系列CMOS器件時，儀器將自動地對其進行測試并在顯示屏前顯示一一個“C"字(此時被測器件電
源為TTL電源)。
本產品所提供的多值測試參數:
8種可選擇的測試電源。
根據不同材料的IC設置多種輸入端注入電流。
多種測試電壓比較值。
功耗測試。
以上參數的不同組合構成不同的測試模式，其中包括用戶自定義模式及全組合測試模式。
測試模式:
模式O:全組合參數測試。
模式1-C:操作與模式0相同，但各有其不同的測試參數數值。
模式D:任選輸人負載電流及測試電源和輸人電流測試。
模式E:自檢。內容包括計算機部分，顯示、鍵盤及測試管腳電路。
模式F:自編程測試。
測試范圍及測試品種:
54系列; 4500 系列;
RAM 256K bit
74系列; 40000 系列:
EPROM 64K bit
4000系列: C0O系列。
光耦
目前市場上所見到的某些功能測試儀無法對IC器件進行直流參數測試和比較，因此會把74LS373與74LS374、74LS352、
74LS353、74LS125 與74LS32及OC門與圖騰柱輸出]等功能性能特性不致的器件混為一類。 這種儀器實用價值很低，
用儀器測試通過后，有時上機卻不能正常使用。本產品會發生類似錯誤。
該產品適合器件廠、整機廠作器件測試篩選之用，也適合科研、學校、、IC 經銷商使用。它是科技工程
技術人員開發新產品的得力工具。
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